内嵌于DDS的DAC线性参数测试
2012-09-05张凯虹武新郑武乾文
电子与封装 2012年5期
张凯虹,武新郑,武乾文
(中国电子科技集团公司第58研究所,江苏 无锡 214035)
1 引言
由于DDS(direct digital synthesis)的多个优点使其被广泛应用于雷达、通信、电子对抗和仪器仪表等领域,目前国内DDS得到突飞猛进的发展。内嵌于DDS的DAC(digital-to-analog converter)已经发展到14位分辨率和高于1.2Gbps的采样速度。由于该类DAC是内嵌于DDS的,其数字端在一些芯片中可通过可测性设计进行操作,在一些芯片中没有提供这样的通路对其进行直接操作。这样的芯片结构对DAC的动态参数的测试未造成影响,但是对DAC的线性测试提出了挑战。
针对如何快速并准确测试DAC的线性参数,本文基于LabView软件、示波器与NI板卡对DAC的静态参数进行了研究并试验;搭建了一套测试平台,通过对DAC的静态参数的实际测试,达到了很好的效果,证明了其实用性。
2 DAC的静态参数
静态特性就是在静态测量情况下,描述实际测量装置与理想线性时不变系统的接近程度。DAC的静态参数包括最小刻度即分辨率、满幅范围、最低有效位、输出失调即电压失调率、增益失调电压即增益误差、积分非线性、微分非线性、单调性等。
2.1 满幅范围(FSR)
满幅范围是指DAC输出信号幅度的最大范围,对DAC数字输入全“1”信号时,输出端测出满幅电压(VFS),再对DAC的数字输入全“0”信号时,输出端测出零幅电压(VZS),就有:

2.2 增益误差(Gain Error)
增益误差是DAC输出电压与输入码的关系曲线的斜率与理想直线斜率的偏差。

2.3 微分非线性误差(DNL)
DNL定义为相邻数字输入对应的模拟输出之差的实际值与对应的理想1LSB间的最大偏差。它反映了DAC输出电压的变化是否均匀。……
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