爱德万测试发布最新高速存储器测试系统T5511

日前，爱德万测试发布了下一代高速DRAM测试系统T5511。T5511是爱德万测试的最新产品，是迄今为止业界高测试速度(8Gbps)的存储器测试系统，今年5月正式开始出货。

T5511是为多样化的DRAM产品提供统一的测试方案：动态随机存储器(简称DRAM)是个人电脑和工作站最常用的存储器类型。现在也被广泛应用于服务器和客户端、移动产品和图形化处理领域中。虽然DRAM的应用很广泛，但是由于DRAM技术发展日新月异，DRAM产品在不同的应用领域差异很大，主要表现在速度和功能方面。最高速的GDDR5-SDRM芯片是应用于图形化处理的，因此需要Clock Training和CRC（循环冗余校验）来确保产品的可靠性和高速性。而应用于服务器和客户端的DDR4-SDRAM的带宽很快就需要达到目前主流DDR3-SDRAM带宽的2倍，且要有GDDR5同等的性能。在移动产品和图形化处理的领域中，总线带宽X32和X64的DRAM是主流，但在不远的将来，具有256-bit宽度接口的DRAM产品将成为业界标准。从终端应用的多样化需求角度出发，DRAM技术的发展需要有能够支持各种新产品和新应用的最优化的测试方案，同时需要严格控制成本，有一个单一的测试平台可以支持各种不同DRAM芯片的测试，并且可以灵活满足从研发到量产的测试需要。

T5511产品特性：业界高测试速度8 Gbps，时间精度达到±40 ps。T5511是业界高速的存储器测试系统，测试速度最高达到8 Gbps，可支持高速的GDDR5-SDRAM芯片测试，并具有扩展功能。值得一提的是，因为T5511所有的测试管脚都可支持8 Gbps的速度，所以在高速运行的时候，可以保证最大同测效率而不受任何影响。……