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基于AHP的靶场测控系统综合性能评估

2012-08-08周伟静郭建华

电讯技术 2012年12期
关键词:设备系统

任 猛,周伟静,郭建华,惠 凯

(1.西安卫星测控中心 三亚站,海南 三亚 572427;2.装备学院,北京 101416)

1 引 言

测控系统是航天工程的重要组成部分,其跟踪测量精度、捕获时间等性能指标对测控工作质量有着较大影响。因此,测控系统实战性能评估成为影响测控决策的一项关键技术。目前航天测控领域还未建立有效的评估体系和标准,在一定程度上影响了设备的使用效果和测控任务的安全。

纵观国内外装备效能评估技术研究现状,层次分析法(Analytic Hierarchy Process,AHP)成为较为合理的解决方案。层次分析法是由运筹学家Satty提出的一种层次化、结构化的决策方法,其基本原理可概括为目标分层、量化计算,由于符合人的思维习惯且能有效处理复杂决策问题,因此得到了广泛的关注和应用。本文采用层次分析法,结合自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE),设计并实现了适用于测控设备的性能评估系统,以满足目前测控系统性能评估需求。

2 评估系统设计

考虑到测控系统功能复杂、评估涉及因素较多,为保证评估的全面性和实用性,本文采用层次分析法作为评估算法,通过测试数据的调用和处理,对系统及各部件性能进行综合评估,及时准确地将设备状态信息反馈给维护管理者,以提高设备管理和维护决策的科学化水平。

对于测控系统这样的大型复杂设备,反复拆卸测试可能导致设备性能下降,造成不必要的损失。因此测控系统现场测试数据采用目前较为成熟的自动化测试技术,通过在线测试、自动存储的方式获取。……

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