安连涛，范桂洋

(中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳110032)

1 前言

失效分析是确定一种产品失效原因的诊断过程。失效分析技术已经广泛地应用于各种工业部门，尤其在电子元器件行业中，失效分析有着特殊的重要性。它能为元器件生产厂提供改进的建议，有助于提高产品的合格率和可靠性;它能为设计部门提供设计验证和设计纠错的服务;它也能为整机厂提供选择元器件供应商的依据;在电路的可靠性设计中，提供如何正确使用元器件的依据，从而提高整机的合格率和可靠性。

2 案例分析

LT286E4型晶体管是由一只达林顿管和一只功率管组成的功率驱动电路，在整机测试时“甩头”(待机状态下电机发生动作)。晶体管N9、N10失效，二极管V7开路(见图1)，更换2只晶体管(不装配二极管)后电路功能恢复正常。电机工作电流约1.5A，待机时Va=Vb=10V。N9是126#失效电路，N10是177#失效电路。为后边描述方便，我们命名N7～N10中的4只功率管分别对应为G7～G10。

2.1 测试和观察

测试:N9达林顿管各参数正常，功率管G9的各引脚呈开路状态，用探针测试N9功率管芯片，CB结呈阻性，EB结开路。N10达林顿管各参数正常，功率管G10的CB结呈阻性，EB结特性正常。

镜下观察:N9功率管铝布线有严重的热熔现象，芯片基极与基板相连的三根压焊丝有一根熔断。N10功率管三条发射极和一条基极铝布线有热熔现象。

2.2 电路工作原理

待机状态:Va=Vb=10V，电机两端电压相等，电机静止。此时N8、N10工作在线性区，N7、N9工作在截止区。

工作状态:工作状态可分为两种情况。……