张倩莉，于 芳，刘忠立，李 艳

（中国科学院微电子研究所，100029 北京）

应用于FPGA测试的导航映射方法

张倩莉，于 芳，刘忠立，李 艳

（中国科学院微电子研究所，100029 北京）

针对目前FPGA厂商的EDA工具不对用户提供专用芯片测试功能，提出一种可应用于FPGA测试的导航映射方法.通过导航映射对FPGA底层硬件进行完全可控操作，精确控制FPGA逻辑资源的使用，可以对FPGA逻辑资源进行有针对性的测试，有效提高FPGA的测试覆盖率，同时在用户约束文件的指导下可以绕开FPGA硬件缺陷进行编程，实现有效的FPGA软件容错功能.本文采用128个测试配置对FPGA进行了验证，结果表明，利用导航映射方法可以得到良好的测试覆盖率.

FPGA，用户约束文件，导航，映射，测试

现场可编程门阵列(FPGA)自从问世以来，凭借其可配置重构这一特性，已经在各个领域得到了广泛的应用.今天的FPGA在结构上更得到了广泛的扩充，更像是1个片上系统(System On a Chip)，它可以包括混合信号 I/O(mixed signal IO)，千兆赫兹收发器(Gigahertz transceivers)，以及大量可配置的逻辑和用于辅助设计的软件工具［1］.由于FPGA结构日益复杂，规模越来越大，内部资源的种类日益丰富，致使对FPGA测试的难度也越来越高.

FPGA测试方法的特殊挑战在于［1］:1)FPGA测试方法要与终端应用有相同相关性，同时也要独立于终端应用;2)应该具有可扩展性，并且与阵列尺寸无关;3)可重复使用并且可以自动化操作;4)易于测量定位.

目前对于FPGA的测试分为应用相关的测试和应用无关的测试:应用相关的测试是指将某种特定应用下载到……