王 强，张 伟，戴景民，张 宏，谢蓄芬

（1.哈尔滨工业大学空间光学工程研究中心，150001 哈尔滨;2.哈尔滨工业大学自动化检测与过程控制系统研究所，150001 哈尔滨;3.哈尔滨理工大学计算机科学与技术学院，150080 哈尔滨）

温度均匀性对V形槽面黑体辐射特性的影响

王 强1，张 伟1，戴景民2，张 宏3，谢蓄芬1

（1.哈尔滨工业大学空间光学工程研究中心，150001 哈尔滨;2.哈尔滨工业大学自动化检测与过程控制系统研究所，150001 哈尔滨;3.哈尔滨理工大学计算机科学与技术学院，150080 哈尔滨）

为了解决同心圆V形槽结构面源黑体的温度不均匀性产生原因及其对辐射特性的影响等问题，提出了基于蒙特卡洛全光路跟踪的辐射特性评估方法.首先通过与精密方法的相互比对验证了该方法的正确性及准确程度，而后分析了温度不均匀性的产生原因及变化规律，最后对温度均匀性与辐射特性之间的影响关系进行了研究.结果表明，槽夹角越小、槽深度越深、工作温度与环境温度差异越大，温度均匀性越差;槽夹角和槽深度还会直接或间接的对有效发射率产生影响.作为结论，建议采用45°或60°槽夹角，槽深度不宜超过2 mm，建议附加热管技术以及保护套筒结构.

温度均匀性;蒙特卡洛;面源黑体;有效发射率;大口径

黑体辐射源是实现红外测量的基准，真正的黑体并不存在，但基尔霍夫证明等温密闭空腔的内表面是黑体表面，所以几百年来，人们一直利用等温密闭空腔开孔的方法来近似地模拟黑……