整平剂及电流密度对电子封装用铜微凸点电镀的影响
2012-02-17李超孙江燕韩赢曹海勇孙红旗李明
电镀与涂饰 2012年12期
关键词:质量
李超,孙江燕,韩赢,曹海勇,孙红旗,李明, *
(1.上海交通大学材料科学与工程学院,上海 200240;2.上海新阳半导体材料股份有限公司,上海 201616)
1 前言
倒扣型封装是通过芯片与基板间的凸点(Bump)键合取代传统引线键合的一种封装技术,该技术具有缩小芯片封装尺寸、提高运行频率、减少寄生效应以及提高封装密度等优势。成本高是倒扣型封装的主要不足,所用基板材料成本为引线键合的2 ~ 3倍,但与引线键合中所用金线相比,在金价飙升的背景下,2种技术的成本差距在缩小。另外,过去单位尺寸内节点高于1 000时,2种封装技术成本才有差异,而如今单位尺寸内节点数高于 200时,倒扣型封装的成本优势就已十分明显。因此,许多电子器件开始选用倒扣型封装技术。
倒扣型封装在性能方面尚需改进之处主要有:改善封装部位的电热性能,抑制因电流密度过高在金属部位发生的电迁移,减少芯片和基板热膨胀系数不匹配导致的可靠性问题,满足未来封装尺寸减小、节点越来越密集的需要[1-12]。
铜微凸点的制备方法很多,而电镀最可行且最具成本优势。电镀除成本低廉外,还有设备投资少、操作简单等优点,一旦工艺成熟便可实现大规模生产。考虑到实际工业生产中成本和工艺的繁简问题,电镀制备铜微凸点最好可一次成型,而不需通过表面研磨或腐蚀等二次处理来满足尺寸精度的要求。因此,开发可直接获得表面平滑、尺寸大小均匀的铜微凸点电镀技术,是目前该项技术能否实现产业化的关键,备受业界关注。……
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