兰州大学第二医院磁共振科（甘肃 兰州 730030）

索凌云 何 宁 张 静

新生儿缺血缺氧性脑病（hypoxic-ischemic encephalopathy，HIE）是引起新生儿急性死亡和慢性神经系统损伤的主要原因之一。我国每年出生的新生儿中大约7%-10%发生窒息，轻者及时治疗预后较好，重者可导致脑瘫、智力低下、癫痫等不同程度的永久性神经系统远期后遗症[1]。对HIE进行早期诊断和治疗，是提高生存率和生存质量的关键。MR功能成像技术能较好的显示HIE早期脑损害，对神经影像诊断学提供参考，及时指导临床治疗和预后评估。本文就MR功能成像在HIE早期诊断及预后评估中的价值和研究进展做一综述。

1 新生儿缺血缺氧性脑病的脑损伤改变

HIE病理生理机制及损伤特点非常复杂。缺氧是根本，脑血流动力学紊乱是主要因素。缺血缺氧的程度和速度影响选择性易损区的分布。慢性部分性缺血缺氧时，体内发生两次血流分配，此模式导致轻、中度HIE。足月儿易损区主要集中在髓鞘形成旺盛区、NMDA受体密集区和脑血管的分水岭地带，早产儿易损区主要集中在脑室旁白质区；急性完全性缺血缺氧时，脑组织血流无代偿，此模式导致重度HIE，丘脑-脑干选择性易损。

目前研究表明，HIE发生过程中存在原发性和迟发性两次能量衰竭，后者引发一系列级联反应“瀑布式”脑组织代谢及神经病理学的改变，最终导致脑细胞水肿、坏死及调亡。两次能量衰竭之间的潜伏期即治疗“时间窗”，国外曾有报道，此期间在人类新生儿可能为6h[2,3]。磁共振功能成像为确定治疗“时间窗”提供理论依据，使减轻脑损伤的神经保护措施能尽快被成功应用，实现HIE早期诊治和良好预后。……