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LTE基站误码率测试方法和测试平台设计

2012-01-18唐彦波

电子设计工程 2012年24期
关键词:信号

唐彦波

(上海贝尔股份有限公司 上海 200126)

LTE基站的射频测试是研发和生产中一个关键的环节。射频测试严格按照3GPP 36.104[1],36.141[2]标准分为发射机测试、接收机测试、性能测试。其中接收机和性能测试指标主要有参考灵敏度、动态范围、阻塞、互调、AWGN和多径信道下的接收性能,以上指标均是以测试误码率(BER)为手段。

基站包括射频单元(RRU)和基带单元(BBU),基站设计有两种不同的架构,一种是射频和基带集成在一起构成一个大的模块,一种是射频和基带分离的方式。其中利用光纤接口(CPRI)把射频拉远来分离射频和基带成为目前基站设计的主流方法。在RRU的研发过程中,在一些关键的时间节点上需要测试相关的射频指标,本文的目的在于提供一种简洁、方便的测试方案,在BBU研发的过程中,模拟BBU功能进行软件解码,同时计算BER;在生产阶段也可采用此平台快捷、方便的验证产品性能。

1 现有方案及优缺点分析

目前的射频BER测试方法主要有以下几种:

1)利用基站基带硬件单元计算BER

此方法采用矢量信号分析仪调制标准的LTE上行信号,以射频信号的形式发送到基站,利用RRU的射频解调模块还原为基带信号,把解调后的基带信号送到基带处理单元解码后计算误码率。此方法的优点是计算速度较快。

利用基站基带硬件单元计算BER的方法,需要基站的射频单元和基带单元同步工作,在研发RRU的过程中,需要BBU的支持。对于新项目来说,一般RRU和BBU同时研发,因此,在项目进行中的绝大多数时间上是不能利用该方法来检测RRU的接收机射频性能的。……

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