许红霞郝颖萍韩荣典翁惠民杜淮江叶邦角

纳米Fe3O4颗粒的正电子湮没谱学研究*

许红霞 郝颖萍 韩荣典 翁惠民 杜淮江 叶邦角

(中国科学技术大学近代物理系，合肥230026)
(2010年7月28日收到;2010年9月13日收到修改稿)

测量了磁性纳米Fe3O4颗粒的X射线衍射谱(XRD)、正电子湮没寿命谱(PALS)和符合多普勒展宽谱(CDBS)，研究了不同压力和退火温度对磁性纳米Fe3O4颗粒物相、电子结构、缺陷及电子动量分布等的影响．XRD，PALS，CDBS测量结果表明:纳米Fe3O4颗粒的缺陷浓度随压力的增加而增大，但物相和缺陷类型并未发生变化;磁性纳米Fe3O4颗粒的物相、缺陷类型及缺陷数量随着退火温度的提高发生了显著的变化;大气环境中压成的纳米Fe3O4样品，相变发生在350—500℃范围内．随着退火温度的提高，纳米Fe3O4颗粒长大导致使界面缺陷数量减少、S参数变小、商谱高动量区的升高．

正电子，Fe3O4，寿命谱，多普勒展宽谱

PACS:78．70．Bj，61．72．－y，75．50．Gg，81．07．－b

1.引言

正电子湮没技术(PAT)因对材料内部的电子结构、动量分布、缺陷变化和相变等非常灵敏，而且它是一种无损探测手段，因而被广泛应用于固体物理、材料科学等方面的研究［1—3］．正电子湮没寿命谱(PALS)可以提供正电子湮没前所在处的缺陷类型及其相对含量等信息．因为不同缺陷位置的电子密度不同，一种缺陷对应一种正电子湮没寿命，通过测量样品的寿命谱可以区分样品的缺陷种类(尺寸大小);同时根据测得各寿命分量在寿命谱中的相对强度可以估算样品内各类缺陷的相对含量．多普勒展宽谱(DBS)可以提供正……