马 腾， 袁 著

（电子科技大学 电子科学技术研究院，四川 成都 610054）

0 引言

D/A 转换器作为连接数字系统与模拟系统的桥梁，不仅要求快速、灵敏，而且线性误差、信噪比和增益误差等也要满足系统的要求[1]。因此，研究DAC芯片的测试方法，对高速、高分辨率DAC芯片的研发具有十分重要的意义。

目前，波形测量和分析协会已提出了DAC测试的技术标准 IEEE Std.1057[2]，里面的术语和测试方法为 DAC测试提供了更多的参考。传统的标准测试只适于信号发生器、示波器等测试仪器，但是测试精度不高；大规模芯片测试时则使用自动测试设备（ATE），但是成本很高；最近提出的DAC的测试方法，比如结合V777数字测试系统可以进行DAC测试[3]，应用模拟滤波器进行音频DAC测试[4]，利用数模混合信号测试系统Quartet对高速DAC进行测试，等等[5]，这些方法在通用性、精确度和成本方面无法同时满足。为了达到上述要求，提出了基于FPGA的高性能DAC芯片回路测试法。

1 DAC主要技术参数

DAC 的主要技术参数基本上可以分为静态特性参数和动态特性参数。DAC的静态特性参数用来确定其转换的精确度，主要包括失调误差(Offset Error)、增益误差（Gain Error）、积分非线性误差（INL）以及微分非线性误差（DNL）等。DAC动态特性参数用来确定其交流条件下的性能，主要包括信噪比（SNR）、信号噪声和失真比（SINAD）、有效位数（ENOB）、总谐波失真（THD），以及无杂散动态范围（SFDR）等。

2 测试方案

2.1 设计原理

DAC芯片参数回路测试法，就是将待测信号形成一个完整的信号回路。首先，使用 FPGA产生待测信号，经过 DAC芯片后转换成模拟信……