耿弼博

（高电压与电磁兼容北京市重点实验室,北京102206）

随着电网中GIS的大量普及应用[1-12]，其稳定性越来越受到人们的重视。根据CIGRE 23.10工作组的国际调查报告，1985年以前投入的GIS的562次故障中绝缘故障占60%，1985年以后投入的GIS的247次故障绝缘故障占51%[13-14]。其中局部放电是导致绝缘故障的先导因素，金属颗粒所导致的局部放电更是占到了很大的比例[15-20]。从金属颗粒开始产生局部放电到最终发生闪络，是一个非常复杂的过程。如何判断局部放电发展到了怎样的程度，此时的放电是否到了危害设备整体绝缘的地步，是工程运行人员非常关心的问题。然而以往人们对这种故障导致的局部放电进行的研究与探索主要集中在检测手段、定位等方面[21-27]，对于金属颗粒产生的局部放电发展过程的研究，以及对GIS局部放电严重程度的辨识与评估一直是一个悬而未解的难题。局部放电发展过程的研究可以为制定合理的运行、维护以及更新计划，实现GIS的状态检修提供科学依据，因此研究GIS内部绝缘子表面金属颗粒的放电发展过程具有很重要的意义。

常规脉冲电流法是研究最早、应用最广泛的一种检测方法，IEC-60270为IEC正式公布的局部放电测量标准[28]。这种方法优点是灵敏度高，可测量视在放电量。本文将尝试通过试验过程中的放电现象及统计谱图特征来探索GIS内部绝缘子表面固定金属颗粒放电发展过程中隐含的规律。

1 试验平台及试验方法

1.1 试验平台介绍

试验平台如图1所示，主要由三部分构成，分别为局部放电模拟系统、检测系统及采集系统。……