谭永良,吴文仕

(1.江门市华凯科技有限公司，广东江门529100；2.深圳市润迅通信集团有限公司，广东深圳518023)

AT24C系列EEPROM集成电路的最大优点是可直接用电信号进行擦除和写入，加之较低的工作电压，长达100年的数据保存能力，因而被广泛应用于如电视，电子时钟，IC卡等需进行数据存储的电器中。随着电器的智能化，存储集成电路的需求越来越大，存储集成电路的好坏显得越来越重要。

AT24C系列集成电路的容量一般在几十kbit以内，相对于大容量存储集成电路，对其测试耗时并不是很长。但在中小型芯片测试企业中，时间对企业而言就是生命，如何在量产测试下取得较高的经济效益，测试时间就成了重中之重。本文将论述如何用最有效的方法去对AT24C系列集成电路进行快速而准确的测试，以提高国内小容量存储器电路的生产能力，降低产品成本，提高经济效益和社会效益。

1 测试方法

根据EEPROM集成电路的技术特点，AT24系列集成电路有单个单元和连续多个单元两种不同的读写方式。如何在选择合适的操作方式去进行数据的写入读出操作是测试的重点。以下就几个可以提高测试速度的问题进行探讨。

图1 缓冲器容量测试

1.1 分页测试

AT24系列集成电路的页写功能是一项快速的写入方式，其原理就是把准备写进的数据放在一个数据缓冲器中，然后再通过内部操作写到指定的存储单元中（见图1）。笔者通过对不同厂家生产的同型号的AT24系列集成电路进行测试……