薛长利，刘伟强

（1.国防科技大学 航天与材料工程学院，长沙 410073；2.航天东方红卫星有限公司，北京 100094）

0 引言

航天器的密封性能关系着航天器飞行的寿命及可靠性[1-2]，需要通过检漏等无损检测手段来保证航天器推进系统的装配质量。在航天器推进系统密封性的检测及试验研究中，氦质谱检漏经常作为重要的方法和手段[3]。在卫星研制过程中所采用的检漏方法主要有氦质谱正压单点检漏法、氦质谱正压积累检漏法和氦质谱正压真空检漏法。目前，我国卫星出厂前整星检漏和发射场整星检漏均采用氦质谱正压积累检漏法[4]。

在采用正压积累法进行检漏，普遍认为：在试验的过程中，由于卫星总装材料、积累容器材料等对氦气有吸附作用，会对卫星的检漏试验数据造成影响[5]。鉴于没有相关研究以及数据，我们对卫星总装过程中所使用的部分材料的吸附性进行了宏观的研究，探讨总装材料对检漏结果的影响。分子间的相互作用。它们之间的相互作用力有范德瓦尔斯力和化学键力两种形式，分别对应于物理吸附和化学吸附的宏观现象。物理吸附的特点是吸附比较弱，对吸附质一般无选择性，温度越低吸附量越大，且可以形成多层吸附。而化学吸附的特点是吸附比较强，对吸附质有选择性，只能形成单层吸附[6]。

氦气与纱布等总装材料的吸附为物理吸附，适用BET吸附等温线，即在相同的温度条件下，氦气与总装材料的吸附是多分子层吸附。……