白 艳，邢 涛

(东北林业大学，哈尔滨 150040)

TOFD(即 Time－of－flight－diffraction technique超声衍射时差法)检测技术具有可靠性好、检出率高、定量精度准、检测效率高［1］和操作成本低等优点，同时该检测技术对于缺陷的检出和定量只是依靠信号的传播时间，不受声束角度、缺陷表面粗糙度、试件表面状态以及探头压力等因素的影响，故与常规的检测方法相比，更能够准确地确定缺陷的性质、位置和自身高度，是一种极具推广前景的无损检测新技术。

但是国内外现有的很多TOFD技术理论文献中都提到了在采用TOFD技术进行检测时，由于直通波和底面回波信号的存在，工件的近表面和底面存在检测盲区［2］的现象。现有的很多解决方案是从信号处理的方法入手，利用滤波、频谱分析和希尔伯特变换等方法来分离检测盲区中的重叠信号，通过重新构建分解信号来计算出缺陷的位置和尺寸，从而解决TOFD技术的盲区问题。然而，在这些方法的使用中，参数的选择以及操作上的复杂性等增加了TOFD技术的应用难度。本文基于TOFD技术的检测原理及盲区产生的原因，分析探头中心距PCS与盲区大小的关系，通过在检测过程中改变探头中心距PCS的方法来解决盲区问题，从而省去了在信号处理中大量复杂的数学运算。

1 TOFD 技术的基本原理［3，4］

TOFD技术采用的是双探头模式 (一发射与一接收)。探头一般为纵波斜探头，这是因为纵波在固体中声速最快，最先到达接收探头，且容易产生衍射，同时纵波的应用可以简化接收信号的波形和显示图形的解释。……