张亭亭 廖勇 马骁

摘要：数字信号处理技术飞速发展，系统分辨率不断提高，对高精度、高性能的ADC芯片需求愈发迫切。性能的提高使得对ADC的全面测试也越发困难。文章针对一款16位8通道高精度ADC，从器件原理分析、模拟输入端设计、相干采样计算方面进行分析。基于Ultra Flex自动测试平台，本研究完成了对该芯片较为全面的测试评估，取得了较为理想的结果。本研究可为ADC测试提供工程解决方案，可供芯片测试人员参考。

关键词：ADC；自动测试系统；动态性能；评估

中图分类号：TN407  文献标志码：A

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在信息时代背景下，数字信号处理技术发展迅猛，但数字处理系统无法直接处理模拟信号。ADC作为模拟和数字世界的桥梁，可将现实世界物理量的模拟信号转换为数字信号，以便后端数字系统进行相应处理［1］。模拟电子信号处理链如图1所示。

近年来，随着电子系统的分辨率和精度不断提高，系统对ADC的精度提出了更高的要求。为保障系统的稳定性和有效性，ADC在装机前必须经过测试并给出详细说明，以便设计师根据ADC的实测性能来确定系统的需求及使用条件［2］。鉴于此，本文基于Teradyne Ultra Flex测试平台，对ADI生产的一款多通道16 bit ADC进行了相应的测试评估工作，并给出了关键电路设计及相应的静态误差参数和动态性能测试结果，可供设计师及从事芯片测试开发人员参考。

该芯片具有16 bit分辨率，8通道同时采样转换功能。功能如图2所示。

该芯片主要由模拟输入箝位保护、二阶混频滤波器、跟踪保持放大器、16 bit电荷再分配逐次逼近型模数转换器、数字滤波器、基准源、基准电压缓冲器以及高速串行和并行接口组成。……