OCXO老化测试系统设计
2023-01-11赵斌
电子制作 2022年22期
赵斌
(河北远东通信系统工程有限公司,河北石家庄,050200)
1 概述
近年来,随着5G通信产业的迅猛发展,时钟源的需求量和使用量也呈现出爆发式增长的趋势,晶体振荡器作为电子电路中最常用的时钟基准元件,其研究成果与生产规模也在不断扩大。晶振的类型很多,按不同性能和实现技术可以划分为恒温晶振、温补晶振、压控晶振等,其中OCXO以高精度与高稳定度著称,相较于温补晶振与压控晶振,OCXO具有更好的温度特性、短期稳定度以及相位噪声指标,被广泛的应用于各级通信设备中。OCXO的设计原理是将晶体置于恒温槽内,通过设置恒温工作点,使槽体内的晶体保持恒温状态,在一定范围内不受外界温度影响,从而达到稳定输出频率的效果。
长期稳定度是OCXO的重要技术指标,通常使用老化率来表征。在OCXO生产研发过程中需要对其进行一段时间的上电老化,监测其输出频率,实时计算老化率并预测长期老化率,从而保证其频率准确度与稳定度。
本文提出一种OCXO老化测试系统,能够实现OCXO老化率的大规模自动化测试,该系统在大幅提高生产测试效率的同时节省了大量的人力资源,满足百万级年产规模的生产测试需求,测试数据实现数字化传输与存储,便于生产研发人员分析数据,从而更好的管控产品质量。
2 系统框架与功能
2.1 系统结构框架
OCXO老化测试系统由计算机及软件系统、网络数据库、频率计数器、原子频标、供电设备、测试箱体、测试板、控制板等部分构成,系统结构框架图见图1。……
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