陈锡，武亚帅，吴建欣，王宗义*，刘明博

1. 北京农学院食品科学与工程学院，食品质量与安全北京实验室，农产品有害微生物及农残安全检测与控制北京市重点实验室（北京 102206）；2. 北京工商大学中国轻工业酿酒分子工程重点实验室（北京 100048）；3. 钢研纳克检测技术股份有限公司（北京 100081）

20世纪初，Moseley定律被提出[1]，由此发现原子序数Z与X射线波长之间存在关系，且特征X射线频率的平方根与原子序数成正比，为X射线荧光光谱技术（XRF）奠定理论基础。

能量色散X射线荧光光谱（ED-XRF）技术作为常规元素定性及定量分析的技术，开始于1950年。1960年之后，ED-XRF技术随着固体半导体探测器和电子技术的快速发展，ED-XRF技术进入实用性阶段[2]。又经历几十年的快速发展，ED-XRF技术已成为分析物质组成的最常用方法之一。依据其工作原理，理论上可以检测元素周期表中的每一种元素，但是在实际应用中，一般认为有效的测量范围为从铍（Be）到铀（U）的90余种元素[3-7]。即便如此，ED-XRF技术还是具有多元素同时分析、对检测样品无污染、分析速度快、适合现场分析等其他技术不具有的优点[8-11]。基于此，ED-XRF技术广泛应用于矿产勘探、冶金、石油化工、生物金属检测等领域。

当X射线照射待测样品时，入射的X射线荧光会与待测样品中的各种元素的原子核发生相互作用。由于外层电子的结合能比内层电子高，因此，伴随激发现象将发生二次电离辐射——发射特征X射线（又称特征荧光，简称荧光）[12]。根据待测样品所产生的特征X射线的能量，可以进行定性和定量分析。……