冯倬诚 林晓君 黄冰洋

摘要：电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）在检测高食盐基质时会受到大量的质谱干扰，使用八级杆碰撞/反应池（ORS）系统能有效消除此类质谱干扰。本文主要以0.4 %NaCl溶液模拟高食盐基质，通过调整He气流量，监测高食盐基质中多原子离子、氧化物、双电荷、信背比和待测元素的信号值等参数，总结了He气流量对上述各参数的影响，为同类样品方法优化提供参考。

关键词：电感耦合等离子体质谱仪;八级杆碰撞/反应池;He气流量;质谱干扰;高食盐基质

电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）具有高选择性、高灵敏度、线性范围宽、分析时间短等优点，是目前各领域的痕量分析中最常用的检测技术。当分析基质较为复杂的样品时，ICP-MS会存在各种原因带来的干扰，如质谱干扰、基体酸干扰、基体效应、电离干扰等，这些干扰在高食盐基质下尤为严重。食盐的主要成分是NaCl与KCl（低钠盐），检测高食盐基质的样品时，食盐中大量Cl会与Ar形成的40Ar35Cl+多原子离子造成质谱干扰;大量Na+与K+会造成基体效应，影响雾化效率、造成矩管中心管堵塞、采样锥积盐堵塞等的非质谱干扰;高浓度的第I族和第II族元素还会造成电离干扰，抑制其他元素电离，使其他元素灵敏度降低等的非质谱干扰。目前，对于非质谱干扰的消除，较为简便的方案为基体稀释。而食盐中的质谱干扰较为明确，主要是多原子离子造成的质谱干扰，此类干扰可以通过碰撞池模式消除。

八级杆碰撞/反应池（ORS）是将原来用透镜加电压提取、分离离子的办法改变为将八级杆装入充满He或其它气体的环境，通过多原子离子与气体碰撞，减少多原子干扰，达到改善信背比的目的，是目前消除四级杆质谱仪多原子离子干扰的较先进技术。……