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一种基片集成波导终端加载结构的复介电常数测量传感器

2021-12-15廖崇蔚蒋龙凯瞿强陈倩刘长军

应用科技 2021年6期
关键词:测量

廖崇蔚,蒋龙凯,瞿强,陈倩,刘长军

四川大学 电子信息学院应用电磁所,四川 成都 610064

在微波工程领域中,复介电常数是材料的重要电磁宏观参量,表征不同材料的电磁特性[1]。在微波化学、航天航空、生物医学、材料学等领域中,需要高效精准地测量复介电常数以探知物质的特性,所以对复介电常数测量的研究具有重要意义[2-3]。随着科技的发展,微波与工业、科学和医学领域的结合日益密切。工业科学医疗频段(industrial scientific medical band,ISM Band)被单独规划出来满足相关领域对频谱的需求。2.45 GHz 和5.8 GHz 是2 个典型的ISM 频率。基于点频测量的复介电常数测量方法通常具有较高的测量精度。基片集成波导由于加工简便、损耗低,可以用于对复介电常数的实部和虚部进行精准测量[4]。

文献[5]实现了5.8 GHz 的液体介电常数测量,展示了较高的测量精度。文献[6]利用一对SIW 圆形腔分别确定空载品质因数,得到待测物的复介电常数。文献[7]通过在SIW 矩形谐振腔引入互补开口环谐振器,实现了复介电常数的测量。文献[8]中设计了一款基于SIW 的双频测试系统,实现了在2.45 和5.8 GHz 频段下的复介电常数的测量。传统基片集成波导传感器通常通过腔体中央位置进行处理,实现复介电常数测量。

本文提出了一种基于SIW 的矩形谐振腔,通过减少其终端金属化过孔的分布,增加电磁功率辐射。通过在过孔间引入缝隙,改善阻抗匹配。该传感器工作在5.8 GHz,通过将传感器插入待测液体,实现S参数的测量,进而获取相应的谐振频率与空载品质因数;……

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