马梦露，赵德双*，杨周明，梁 锋，曹卫平，王秉中

（1. 电子科技大学物理学院 成都 611731；2. 广西无线宽带通信与信号处理重点实验室 桂林 541004）

在实际生产中，由于制造公差、装配误差和射频通道差异等原因，5G 相控阵的各个通道与理想状态有明显的幅相差异，这些差异如果不进行精确的校对，严重时会引起相控阵的辐射效率下降、方向图畸变从而影响5G 无线通信质量[1]。因此，在投入使用前，对5G 相控阵天线的各个通道进行精确的幅相校准，是产品校测中一个必不可少的关键环节。

与传统的相控阵天线不同，5G 相控阵的天线单元与射频电路通道被有机地集成在一起，构成一个完整的有源天线单元（active antenna unit, AAU）。在AAU 成型后，一般不宜将二者拆解用传导方法进行幅相校准，因此，空口（over the air, OTA）校准便成为当前最主要的5G 相控阵校准手段[2]。OTA 校准是指，在待测阵的辐射区，用探头天线采集AAU 的辐射场信息，在不需拆解射频通道与天线的情况下，完成相控阵天线通道间的幅相校准。OTA 校准主要有远场、近场、紧缩场等几种手段[3]。其中，近场OTA 校准因为无需建造大型暗室，也无需特殊的平面波产生装置，具有占地小、成本低、效率高等优势，因此，成为目前解决Sub-6 GHz 频段内5G 相控阵幅相校准的一个主导技术。

从当前研究来看，近场OTA 校准主要以单探头近场扫描为主，通过单个探头在近场区扫描，获取天线近场信息，然后基于平面波谱展开理论，将采集到的近场转换为远场，进一步反推至待测阵（device under test, DUT）的口径场，通过近/远场变换、近场/口径场变换完成阵列诊断[4]。……