王丹丹 秦 芩 童明辉

新生儿脑损伤是指围产期因各种因素导致的新生儿不同程度的脑缺氧缺血性和/或出血性损伤，是新生儿死亡和长期神经发育障碍的主要原因［1］。新生儿脑损伤的进展取决于损伤与修复反应间的平衡，临床及早干预可明显改善其神经发育结局。近年来随着超声检查设备和成像方式的不断发展，颅脑超声逐渐成为无创评估新生儿脑损伤的首选检查方法。本文就颅脑超声及其新技术在新生儿常见脑损伤中的应用进展进行综述。

一、超声在新生儿常见脑损伤中的应用

1.新生儿缺氧缺血性脑病（hypoxic ischemic encephalopathy，HIE）：是围产期因各种原因引起的完全或不完全性窒息导致的一种脑损伤，其病理学特征随胎龄、损伤时间及程度差异而有很大不同，早产儿主要影响脑室周围白质，而足月儿可见皮层及皮层下白质损伤和基底神经节病变，这一理论在颅脑超声上也得到了验证［2］。颅脑超声在足月儿缺氧损伤引起脑水肿后24～48 h即可诊断HIE，表现为脑白质回声增强、灰白质分界显著、脑沟消失、脑室缩小等［3］。在对新生儿HIE进行超声随访，最终可能出现半球裂隙模糊、灰白质分界不清、脑室扩大、脑积水甚至脑萎缩等。综合HIE在颅脑超声上的不同表现，Annink等［4］提出一种新的超声评分系统用于评估HIE及其预后，评分系统包括白质受累指标（脑水肿、皮层下白质和脑室周围白质，0～6分）、深灰质受累指标（丘脑、壳核、内囊后肢可见、四列标志，0～6分）及阻力指数（0～1分），结果表明在出生后3～7 d，上述各指标均与不良预后显著相关。……