傅晨琦，季利鹏，孙伟卿，郝 健

(上海理工大学 机械工程学院·上海·200093)

0 引 言

随着我国经济的不断发展，我国的航天工业也取得了很大的进步。电子设备从过去粗放的发展模式逐渐走向精细化和科学化。为了保证系统的整体质量，人们对航天领域中使用的电子设备的电路的可靠性提出了越来越高的要求。特别是面向航天探测任务的电子设备，其电子电路的故障直接影响到航天任务能否顺利进行[1]。然而，随着微电子技术的快速发展，航天探测设备中电子模拟电路的集成化程度越来越高，其性能和组成越来越复杂，这也使得电子设备的故障诊断变得更加困难[2]。

电子电路的软故障检测是指电路元件在实际环境中运行时参数偏离初始标称值的情况，如某电阻值偏离正常公差类，使电路性能偏离正常状态[3]。软故障不同于硬故障，它是多种多样的，因此对其的检测更难进行，这也导致航天电子设备软故障检测一直是航天故障领域的研究热点[4]。

传统的电子设备故障诊断方法基本利用通过测试仪器逐点跟踪信号的思路，借助人的逻辑判断确定设备的故障点。这种传统的诊断技术在很大程度上依赖于维护人员的实践经验和专业技术水平，通过对电子设备[5]的检查和测试确定故障点。但是，这种传统的方法对于现代化的航天事业而言相对落伍，尤其是相对商业航天的批量化设备生产而言。近年来，许多学者在模拟电路故障诊断领域进行了大量的研究，提出了故障字典方法[6]、灵敏度分析方法[7]和信号处理方法[8]等。……