张军英，张雨，林帅，姜维维

（中国兵器工业集团第五三研究所，济南 250031）

隐身材料反射率测试准确度不仅与仪器准确度有关，还受到背景电平、样板定位精度、测试距离、测试的电磁环境等诸多因素的影响［1-3］，因此必须采用具有准确量值的标准物质对系统进行整体校准，才能保证反射率测试的准确度。目前普遍采用具有较高平行度、平面度、光洁度的金属良导体平面作为100%（0 dB）反射基准，虽然可以满足整套测试系统的0 点校准需求，但无法保证较宽的测试动态范围内（0～-15dB）系统测试的准确度，因此导致使用方需要对隐身涂层进行测试评估。由于缺乏测试与校准手段，准确度无法溯源，从而限制了测试设备的发展与应用。这类仪器属于非标专用设备，其量值无法向国家或国防计量标准进行溯源。对于类似测试设备的校准，国防系统具有相关规定，可以通过比对或采用标准物质等方式进行校准，因此研制X 波段反射率校准用标准物质是解决隐身材料X 波段反射率现场测试设备测试准确性问题的有效途径。

对于隐身材料X 波段反射率标准物质的制备而言，需要解决三个方面的问题［4-9］。首先是特性量值的符合性，保证标准物质的量值符合预定的标称值范围，应对配方与结构参数严格掌握，在制备过程中监控各项指标的变化，并作出调整，以适应量值的要求，同时控制量值的离散性，使目标量值趋于一致；其次，应满足稳定性要求，制备工艺不严格可能带来标准物质的应力变形、功能层裂隙等缺陷，直接影响标准物质的稳定性；……