基于改进键合图方法的层次机电系统的测试性建模与分析
2021-10-08龙玉峰史贤俊肖支才
计算机测量与控制 2021年9期
龙玉峰,史贤俊,肖支才,张 婕,杨 宇
(1.海军航空大学,山东 烟台 264001;2.中国人民解放军92154部队,山东 烟台 264001)
0 引言
随着智能化技术的不断发展,机电系统应运而生,主要涉及医学、光学、材料工程、机械工程、化学、物理学以及生物工程等多种学科和工程技术。机电系统的制造工艺包括微米制造工艺、机械工艺、集成电路工艺以及其它特种工艺等,其在国民经济以及军事方面均存在着广泛的应用前景[1]。
层次化机电系统指的是多层次的机电系统,随着机电系统层次的增加,该系统的复杂性与混合性也在逐渐提升,向着微型化、综合化发展。虽然层次化机电系统带来了很多便利,但同时也带来了威胁,例如层次化机电系统故障原因增加、可监测性约束增加等,导致层次化机电系统测试性下降,极大地提升了层次化机电系统的诊断维修难度,成为影响层次化机电系统寿命周期的重要因素之一。为了提升层次化机电系统的安全性与可用性,降低层次化机电系统寿命周期成本,应该在层次化机电系统设计初期做好测试性设计,将其与健康监测与诊断有效的结合,这对保持层次化机电系统的健康状态至关重要。精炼层次化机电系统设计提升系统可测试性的过程称为DFT (design for testability)[2]。测试性指的是系统可以及时准确地确定系统状态,并隔离内部故障的一种设计特征。为此,学者们对层次化机电系统测试性建模与分析方法进行了较为深入的研究。
就现有……
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