中电科思仪科技股份有限公司 张文涛

随着天线频率向太赫兹频段拓展，高频段天线测试系统需求越来越紧迫，对于天线测试来说，通常有远场测试、紧缩场测试、近场测试三大类测试方法。远场测试系统优点在于测试速度快，不用经过电磁波转换和数据转换计算，测试精度高。但远场测试时，测试距离必须满足远场条件，太赫兹频段空间损耗高，对应频段的功放、低噪放增益小，由此带来的问题是系统动态范围小。紧缩场测试通过反射面实现了电磁波从球面波到平面波的转换，缩短了测试距离，解决了高频、大尺寸天线的测试问题，但紧缩场为了满足静区尺寸范围，需要加工尺寸较大的反射面，且太赫兹频段加工精度高（1/60λ），成本昂贵。近场测试通过利用扫描探头采集天线近场测试区域内幅相信息，再经过数学变换得到天线的远场特性。

通过设计近远场复合测试系统，使该系统在低频段可以采用近场或远场测试，高频段天线测试在不满足远场条件的前提下，可采用近场测试。从而完成高效、可复用、多种测试方法合一的天线测试系统设计。

1 系统方案

1.1 硬件技术方案

近远场天线测试系统由测试部分与控制部分组成，其中测试系统部分放在微波暗室中，主要由网络分析仪、太赫兹发射模块、太赫兹接收模块、扫描架、转台、近场测试探头、功率放大器、低噪声放大器、连接电缆等组成。

测试系统连接框图如图1所示。

图1 1～110GHz近远场复合天线测试系统框图