王爱玲

（济宁职业技术学院，山东 济宁 272037）

1 双脉冲测试概述

IGBT是电力电子设备中的核心部件，一方面其工作特性直接决定了设备的工作性能，另一方面其驱动设计好坏对自身工作具有至关重要的影响[1,2]。双脉冲测试被广泛应用于大功率IGBT模块的驱动设计及开关特性分析[3,4]。其测试电路如图1所示，包括直流电源VDC、负载电感以及一组IGBT桥臂。通过对桥臂下管施加连续的两个驱动脉冲实现开关特性测试，其中第一个脉冲用于建立工作电流和测试关断特性，第二个脉冲用于测试开通特性及二极管的反向恢复[5]。

图1 双脉冲测试电路图

双脉冲测试的主要用途包括以下4各方面。一是对比不同的IGBT的参数，如同一品牌不同系列产品的参数，或者是不同品牌的IGBT的性能。二是获取IGBT开关过程中的主要参数，以评估驱动电路和驱动电阻数值是否合适评估、是否需要配吸收电路等。三是考量IGBT在变换器中工作时的表现，如二极管的反向恢复电流是否合适、关断电压尖峰是否合适以及开关过程中是否有震荡等，四是计算IGBT开关损耗。

已有的关于双脉冲测试的研究报道主要集中在该测试方法的原理、设计与实现，却鲜有文献报道双脉冲测试平台的设计，特别是考虑温度影响之后，如何实现在可调节的温度下进行双脉冲测试实验[6]。为此，本文提出了一种温控型双脉冲测试平台的设计，可实现高达150 ℃的IGBT双脉冲测试，以获得器件在高温环境下的开关特性及开关损耗等。……