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对某设备低温下测频超差问题的分析和研究

2021-08-18罗绍彬何鱼鑫万霏

电子测试 2021年14期
关键词:故障信号

罗绍彬,何鱼鑫,万霏

(西南电子设备研究所,四川成都,610036)

0 引言

频域参数是雷达各种特征参数中最重要的参数之一,是设备分选和威胁识别的重要依据[1],瞬时测频(IFM)具有较宽的瞬时频率覆盖范围和比较大的瞬时动态范围,而且能够以非常快的速度完成对信号频率的测量,给出工程所需的测频精度,同时具有极高的截获概率,所以瞬时测频在很多领域电子设备中得了到广泛的应用[2]。随着电子设备的使用要求,能在各种温度环境中,对频率信息保持精确的测量非常重要,直接影响电子设备整机性能的发挥。影响瞬时测频测量精度的因数很多,在工程中发现,温度的影响是主要原因之一,文章以科研生产单位在实际工程中,整机生产调试人员对某型电子设备在进行低温环境工作试验,电子设备在低温工作中,出现了测频误差大,超过了技术指标要求的原因进行分析和研究。

1 原理分析

在某型电子设备整机中,负责测频指标测试的模块是使用瞬时测频(IFM)原理设计的,采用微波干涉仪鉴相的方式进行测频,其工作原理是利用微波信号的干涉现象[3],如图1所示。

图1 微波鉴相器的原理图

将输入射频脉冲信号通过功分器分成两路其中的一路通过延时线延迟,另一路为直通信号。将延迟和不延迟的两路进行相关比较,两路的相位差和输入射频信号的载频值之间有一固定的关系,这就是IFM 组件的工作基础。关系如下:

(1)式中,φ: 相位差τ:延迟时间f:输入射频频率值

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