陈 军，宋振飞，万发雨

(1.中国移动通信集团江苏有限公司 泰州分公司，江苏 泰州 225300；2.中国计量科学研究院，北京 100029；3.南京信息工程大学，江苏 南京 210044)

1 引 言

通常天线增益测量方法可分为比较法、二天线法、三天线法、波束宽度法和方向图积分法等[1]。其中比较法属于相对增益测量，其他方法均属于绝对增益测量。常规天线增益测量方法均是在固定距离下完成天线增益测量，无法获得天线无限远处的绝对增益。此外，受测量场地的限制，一方面无法满足远场测试条件，另一方面天线之间的耦合以及电磁波的多径反射都是客观存在的，这就导致天线增益测量精度大于0.3 dB。因此，需要探索一种天线增益测量方法，它既可以获得无限远处的绝对增益，也可以得到任意距离下的绝对增益。迄今为止，在天线增益测量技术中，国际上公认最精确的天线校准方法是外推法，它是从近场开始测量，通过外推从而获得无限远处的远场绝对增益，并且可以消除天线互耦和多径反射的影响[2～4]。

近年来，天线精密测量出现了不少新的测量方法和相关研究[5～7]。但是近10年来，国际上关于外推法天线增益测量的研究主要集中在测量理论[8，9]和测量应用[10～12]，并未深入探索外推法天线增益测量的基本原理及相关的定标实验。国内近年来，孟东林等基于NPL(英国物理实验室)的外推法测量装置对K波段标准天线增益进行了实测验证[13]，宋振飞等基于NIM(中国计量科学研究院)的外推法天线测量装置完成了天线增益测量的不确定度评估标准[14，15]，刘潇等实现了外推法天线增益测量系统的暗室反射影响评估[16]。……