基于导通延迟补偿的并联MOS栅控晶闸管均流方法研究
2021-07-29袁榕蔚陈万军
袁榕蔚,刘 超,陈万军
(电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都 610054)
1 引言
脉冲功率系统可以在极短的时间(微秒或者纳秒量级)内产生兆瓦级别的瞬时高功率,因此被广泛应用于粒子加速、废气废水净化、食品加工等诸多领域[1-3]。其中脉冲功率开关是脉冲功率系统的核心组成部分,具有高阻断电压、高峰值电流、高di/dt能力,其开关性能直接影响脉冲系统的输出特性,是脉冲功率技术的重要研究方向之一[4]。
在电力电子领域众多电力半导体器件之中,绝缘栅双极性晶体管(Insulate-Gate Bipolar Transistor,IGBT)是当今发展较为迅速的全控型半导体开关器件,应用较为广泛。但如果应用在高di/dt和高峰值电流的条件下,IGBT就很难满足应用要求。MOS栅控晶闸管(MOS-Controlled Thyristor,MCT)无疑是更好的选择,它既有MOS电压控制、驱动电路简单、开关速度高、开关损耗小的优点,又有晶闸管的高di/dt、低导通电阻等优点,因此更适合使用在脉冲系统当中。一种阴极短接的MOS控制晶闸管 (Cathodic Short MOS-Controlled Thyristor,CS-MCT)相对于常规MCT表现出更好的脉冲性能[5-7]。
CS-MCT相对于其他的功率器件具有较好的脉冲特性,针对CS-MCT的dv/dt耐量和串联方面也做了广泛的研究[8-9]。但在脉冲功率系统对脉冲电流的需求不断提高的情况下,单个器件的脉冲电流已经难以满足应用的要求,CS-MCT的并联就是一种快速有效的解决方案。但与IGBT不同,CS-MCT在开启后脉冲宽度很短,一般在纳秒量级。这就使得并联的器件如果导通延迟不同,会有大量电流流经优先导通的器件,导致模块负荷分配不均,电流较大的器件加速老化和损坏,降低系统的稳定性,因此解决CS-MCT并联均流问题是必要的。……
