基于整群抽样和支持向量回归模型的高功率半导体激光器剩余使用寿命预测
2021-07-15严建文钟小虎郭三敏1
严建文 钟小虎 范 煜 郭三敏1,
1.合肥工业大学管理学院,合肥,2300092.合肥工业大学航空结构件成形制造与装备安徽省重点实验室,合肥,2300093.浙江大学机械工程学院,杭州,3100584.安徽皖维集团有限责任公司,合肥,238002
0 引言
高功率半导体激光器及其阵列具有体积小、质量小、能耗低、光斑易调节、光电转换效率较高的优点,已广泛应用于金属材料加工,该种激光器可用于连续性焊接不同型号的合金钢,获得大面积深度均匀的相变硬化层,也能够精确地控制熔覆层结构及其几何形状[1]。为保证材料加工过程的安全性和可靠性,需利用预测与健康管理(prognostics and health management, PHM)技术对高功率半导体激光器的状态进行监测和分析[2]。PHM技术的主要目的在于预测故障发生的时间和地点,估计剩余使用寿命(remaining useful life, RUL)的分布或期望[3],提高激光器的可靠性。准确的RUL预测可为决策者提前制定维修计划和优化供应链管理,减少不必要的维修或更换成本,提供有效的信息。
相比于传统的基于可靠性的方法[4-5],现有的数据驱动方法主要通过对状态监测或检测数据进行分析,捕捉数据中潜在的退化规律和故障失效信息,通常可以分为两类。①基于退化模型的方法[6](如维纳过程模型[7]、伽马过程模型[8]、逆高斯过程模型[9]、隐(半)马尔可夫模型[10-11]等),旨在对设备的退化演化过程进行建模,如采用逆高斯过程模型对退化过程进行分析,以预估GaAs激光器的RUL分布[12-14]。这类方法均假定退化模型是事先知道的,模型参数利用状态监测数据进行估计,然而实际工程中很难事先确定一个适当的退化模型,且退化模型选择不当将会严重影响RUL的预测精度[15]。……
