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电子产品步进应力加速试验数据仿真分析方法

2021-07-08张勇

数码影像时代 2021年7期
关键词:水平产品方法

编者按:对基于步进应力加速试验的引信贮存寿命评估方法进行了描述并建立了统计分析基本思路。假设引信贮存寿命服从二参数的威布尔分布,在步进应力加速试验模型基础上,建立贮存寿命评估模型并运用极大似然估计方法评估分布参数,求出正常贮存条件下的贮存寿命。最后通过Monte-carlo仿真案例分析验证了方法的可行性。

引言

随着产品可靠性的不断提高,用通常的寿命试验方法来评估产品的贮存寿命,从试验时间和试验经费上来说已成为企业的沉重负担。加速寿命试验可以在较短时间内预测引信的贮存寿命,加速寿命试验有恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验三种,其中步进应力加速寿命试验将全部样品放在某个加速应力水平下进行试验,在达到预定的时间或失效数时将应力步进增加到更高的应力水平下继续试验,直到达到预先确定的时间或失效数时结束试验。这种加速试验方式降低了对试样数量的要求,具有更高的加速效率。由于引信机械部件的失效率大大低于电子头部件的失效率,所以对引信的加速寿命试验主要针对电子部分来做,电子类寿命采用Arrhenius模型,其实际贮存环境影响因素主要是温度和湿度,而对于一些包装密封良好的产品,通常采用恒湿步温的加速试验方案,由于引信采用了良好的密封,湿度对贮存寿命影响不明显,因此,认为相对湿度对引信的贮存寿命无影响,选温度应力作为加速应力。……

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