王禹辉

（中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳 110000）

1 引言

某型可编程间隔定时器的芯片内部有三块计数器，且每个计数器拥有六种工作模式。在测试时，为了达到测试的全面性，需要对其内部的全部三块计数器及每个计数器的全部六种工作模式分别进行测试。除此之外，在测试时，还需要赋予计数器初始值以最大值，从最大值开始进行“减一”操作，以保证所有计数点都在测试中被覆盖到。测试芯片能否正常工作，是通过芯片的输出电平来进行判断的。芯片对应的详细规范对芯片的输出电平达到稳定的时间是有严格限定要求的，只有在满足详细规范要求的时间内达到输出电平稳定，该芯片才能算测试合格。一般情况下，对于大批量生产的芯片，出于测试的便捷、高效及稳定的考虑，都是使用大规模集成电路测试系统进行测试，但这种一测试模式的弊端是很难发现芯片的一些比较特殊的工作异常情况。通常情况下，要对芯片工作时出现的具体问题进行分析，都是使用示波器捕捉芯片输入输出波形，以此方式来进行准确定位[1]。

2 故障描述与初步分析

在实际工作中遇到的一次具体故障案例中，某型芯片的一只管芯在ETS-770自动测试系统中进行了测试，测试结果显示正常，但在用该芯片所在电路进行实际工作时，使用者发现电路在进行模式转换的过程中有异常行为出现，据分析，属于触发下级中断的情况[2]。

为了找出具体故障原因，首先根据芯片特点，分析模式转换时出现触发下级中断情况的原因的所有可能性；……