钱泓江，董秀成，徐椰烃，蒋金洋，陈桂芳

（西华大学电气与电子信息学院，成都610039）

利用荧光油膜在激光照射下的显色反应，由荧光油膜灰度表征出油膜厚度这一关键因素，进而通过得到油膜厚度解算该处的摩阻分布。早在1977年，由Tanner[1]提出通过油膜的激光干涉来测量表面摩阻，为摩阻的简化测量提供了坚实的基础。1993年，Monson等[2]对油膜干涉法进行完善，油膜干涉理论发展成熟。而1999年，Brown等[3]精确建立了在流体表面摩擦应力作用下的油膜演化方程，形象地表征出了油膜厚度随时间的变化率与其自身体积力、摩阻等因素的关系。对使用油膜进行全局摩阻的直接测量提供了可能性。在2008年，由Liu等[4]提出用荧光油膜的灰度成像来表征油膜厚度这一新方法，建立了荧光油膜灰度与厚度的线性模型，该模型提供了理论基础，但还无法直接用于工程测量中。2011年，李鹏等[5]将荧光油膜灰度与厚度线性方程引入相对表面剪切力模型，得出相对剪切力与成像平面灰度分布间的映射模型，为进行全局剪切力直接测量方法的研究和建立求解模型提供了有利的基础。2012年,李鹏[6]提供了较为简便的数据采集方法，他通过用盖玻片和载玻片等高透光光学玻璃构成斜面进行荧光油膜灰度、厚度标定数据的采集，并初步验证了该线性关系的正确性。

在标定过程中，一般选择插值法或数据拟合的方式来处理数据使其平滑。传统的插值法或者数据拟合的方式在一般厚……