SiO2图形化蓝宝石衬底对GaN生长及LED发光性能的影响
2021-06-08李思宏罗荣煌钟梦洁罗学涛
李思宏,侯 想,罗荣煌,刘 杨,钟梦洁,罗学涛*
(1. 厦门大学 材料学院,福建 厦门 361000; 2. 福建中晶科技有限公司,福建 龙岩 364000)
1 引 言
近年来,氮化镓(GaN)半导体材料因其在发光器件、大功率和高频器件上的应用而引起了广泛的研究兴趣[1-3]。目前能够用于GaN生长的异质衬底主要有硅衬底、碳化硅和蓝宝石。由于异质衬底与GaN外延层之间较大的晶格失配和热失配,导致GaN外延层存在较高的位错密度[4-5],这些位错充当非辐射复合中心[6]和电子散射中心[7],使GaN基发光二极管(LED)器件的内量子效率下降;另外,GaN与空气的全反射也会降低LED的光提取效率,从而降低了LED器件的光学和电性能。为了解决这些问题,已经提出许多方法,例如采用侧向外延生长(ELOG)技术[8]来改善GaN外延薄膜的晶体质量,或者采用光子晶体技术[9]、表面粗化技术[10]以及图形化蓝宝石衬底(Patterned sapphire substrate,PSS)技术[11]等均可以有效提高LED器件的光提取效率。其中,特别是PSS的使用引起了广泛的关注。据报道[12-13],PSS能够使GaN外延生长由纵向变成横向,降低了GaN外延材料的位错密度,从而提高内量子效率;此外,非平整的GaN/蓝宝石表面可以改变有源层发出光的传播方向,避免GaN与空气间因折射率差太大而造成的内部全反射,增加了光子的散射,提高了光的出射概率,使光提取效率增加。
然而,对于常规PSS,工业化路线已经相对成熟,亮度提高已经达到了理论极限,如何在蓝宝石衬底材料体系的大前提下,进一步提升 LED 的发光性能,是我们所关注的焦点。据Lin[14]报道,采用折射率低于蓝宝石衬底(1.78)的纳米粒子衬底,可以提高LED的外量子效率;……
