基于Labview 的位移测量系统设计
2021-04-30罗瑜
电子设计工程 2021年7期
罗瑜
(陕西工业职业技术学院电气工程学院,陕西咸阳 712000)
位移测量在工业生产应用中非常广泛,随着工件精密度要求的提高,相对应的对测量设备的测量数据精度要求越来越高,同时对测量效率、测量数据处理、可靠性、自动化程度、可操作性都有相应的要求。光栅尺以其适应性强、测量精度高等优势在位移测量系统应用中占有很大比重[1]。目前,设计实现的测量系统主要表现在功能实用性方面,在测量数据管理和可操作性方面还有很大提升空间。基于Labview 的位移测量系统具有对位移数据的存储、分析、查询和控制运行等功能,并且在数据处理分析、功能多样化、测量过程自动化、人机交互等方面都有着较大优势,在高精度位移测量仪器上得到了广泛运用[2]。
基于Labview 软件平台,以MSP430 为控制器,利用光栅位移测量技术提出了一种提高工作效率和测量精度的全自动位移测量系统的设计。系统上位机软件实现了对测量数据的存储统计及分析,软件具有数据查询、数据分析、报表生成等功能,使位移测量系统在测量数据管理方面更加方便易用。
1 系统总体设计
该系统上位机软件开发平台为Labview,控制器为MSP430 单片机,结合光栅尺、伺服系统、寻边器等硬件实现系统设计。X轴驱动器用于驱动带动读数头沿X轴移动的X轴电机;Y轴驱动器用于驱动带动光电感应式寻边器沿Y轴方向移动的Y轴电机;光栅尺输出的正交脉冲信号经过细分辨相电路处理后为两路信号输出[3],控制器通过处理细分辨相电路的输出信号获取X轴的运动方向及实际位移;……
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