马轶博，王鹏程

(中国电子科技集团公司第二研究所，山西 太原 030024)

0 引言

TO激光器件具有体积小、效率高及寿命长的特点[1,2]，主要应用于光通信、信息存储与处理、军事应用、医学应用以及科学研究等领域。目前国内外的TO激光器在完成点胶工序后主要是通过人工镜检来判断点胶效果[3,4]，但人工镜检存在效率低以及一致性差的问题，从而影响激光器的成品率。全自动镜检设备的出现，替代了传统人工镜检，提高了激光器的成品率。为兼顾系统运行的稳定性、操作的便捷性以及设计成本的可控性，本系统在设计时采用安川的运动控制板卡MP3200作为运动控制核心，并通过C#高级编程语言设计HMI人机交互界面，从而完成上位机加下位机的整套控制系统方案设计。

1 系统及工艺要求

全自动镜检分选设备主要是对TO激光器中PD芯片及陶瓷垫块在点胶工序完成后的效果进行检测[5]，设备主要结构包括以下几部分：

1) 上料机构。

2) CCD视觉检测机构。

3) 废料挑拣机构。

4) 废料收纳机构。

5) 下料机构。

上料机构需兼容10*20与9*18两种规格料盘，且单次上料盘数不能低于5盘，若自动运行时上料区域检测到无料盘，系统需报警；CCD视觉检测机构需满足X/Y方向的同时移动功能；因点胶完后的芯片及垫块还未固化，采用负压吸附的方式对废料进行吸附，可能会对芯片的点胶效果造成二次偏差，因此废料挑拣机构的吸嘴采用电磁铁进行吸附；废料收纳机构及下料机构需兼容10*20与9*18两种规格料盘。……