段佩权，李广华，陈 垚，曲 亮

(故宫博物院，北京 100009)

0 引 言

X射线荧光分析技术(X-Ray Fluorescence，XRF)通过激发待测样品的荧光来实现对其元素成分的定性和定量分析。该技术以非接触的方式对待测样品进行分析，因此广泛应用于考古和文物研究领域。在过去的数十年中，考古学家和文物学家将该技术应用于陶瓷、金属、玻璃、绘画等诸多类型文物的研究中，通过对文物的定性和定量分析获取所用的材料、工艺及年代等信息。在近几年中，随着分析仪器及数据处理软件的进步，基于该技术的一种新的文物分析方法：广域X射线荧光扫描成像技术(Scanning Marco X-Ray Fluorescence Imaging，macro-XRF或MA-XRF，以下统称MA-XRF)被广泛应用。

MA-XRF在XRF的基础上，通过逐点扫描待测区域并对数据进行成像处理，获取各个元素分布的图像信息。其是相对于微束XRF(μ-XRF)技术而言，意为通过大尺寸测试光斑快速扫描的方式来完成对大面积文物的分析。一般将光斑尺寸在100 μm以上的称之为MA-XRF[1]，小于100 μm的则为μ-XRF[2]。受限于X射线源能量低，探测器探测效率低以及数据处理能力落后等因素，这一方法虽然在几十年前就开始出现[3]，却并未获得广泛应用。获益于同步辐射X射线技术的发展，高能X射线源能够提供高通量的X光，这一技术才开始发展起来。在DESY研究所的同步辐射装置上，Dik等首先完成了对梵高等一些油画作品的分析工作[4-6]。然而，受限于同步辐射装置不可移动以及文物样品的特殊性，许多的相关研究受到限制无法开展。近几年来，随着技术的发展，实验室X射线源及探测器技术有了长足的进步，一批实验室MA-XRF装置相继被研发出来并成功应用。……