郑 宇，方 岚，李苏苏，谢玉巧

(华东光电集成器件研究所，吉林 吉林 132001)

0 引言

数字集成电路芯片的设计、加工、系统整合方面的技术研究近来发展迅猛，但国内相关工作平台的设计与实现工作相对滞后。提供一个无需生产环境即可实现对数字集成电路进行相关测试的微处理器嵌入平台，是本文的研究重点。相关研究中，基于布尔差分法在微处理器的嵌入式控制下，对针对测试码集合对微处理器进行激励-反馈测试，是数字集成电路测试系统的主要实现模式。

代鹏(2020)等研究了一二次融合开关技术在数字集成电路测试系统中的应用及相关的电气细化设计[1]。王玉菡(2020)等研究了相变存储器单元在高速电流脉冲条件下的数字集成电路测试系统中的应用[2]。开关技术和寄存技术是高频信号发生的关键技术，在对高频数字集成电路的测试中，测试系统本身的高频性能必须超过待测试数字集成电路的高频信号需求且保留一定冗余。田强(2020)等研究了一种基于V58300平台的数字集成电路测试系统二次开发设计[3]。使用既有数字集成电路测试系统并通过二次开发过程使其潜在性能得到充分开发，也是当前数字集成电路测试平台开发的重要方向。石君(2020)等及王金萍(2020)分别对数字集成电路测试系统的相关算法[4]和测试方法[5]进行了研究。郑永丰(2019)等研究了在数字集成电路测试平台中融入射频信号发生功能的工程实现方法[6]。

基于上述技术文献的前期研究，本文基于TL5708-EVM-1000-64GE8GD-I开发板，设计一种可提供750MHz测试频率环境的数字集成电路测试系统。……