孙龙生

（麦可罗泰克（常州）产品服务有限公司，江苏 常州 213031）

0 前言

高低温冲击是模拟印制电路板在长期使用过程中环境温度改变引起的老化程度，由于不可能采用与实际使用情况相同的试验条件，只能通过瞬间经极高温及极低温来模拟检测试样的承受能力。高低温冲击与阻值测量相结合可以监控电路板在经极高温及极低温的连续环境下试样因热胀冷缩所引起的内部变化过程，常规的高低温冲击只能测量试验前和试验后的导通阻值，且只针对阻值较大的测试单元；对于毫欧级别的单孔电阻在线测量，我们使用了更加精密的测量设备，以及量身定做的一套测试软件系统来实现了阻值测量的实时监控。实时监测可以更直观地了解电路板在试验过程中的变化情况，可以及时找出试样发生失效的时间点，并在产生失效的第一时间进行分析处理。

1 单孔图形较链状图形的优势

以往高低温冲击都是测量链状电路图形，链状图形的总电阻包含了若干个镀覆孔的阻值和连接导线的阻值（见图1所示），总电阻通常超过了100 mΩ，而单孔阻值的大小大约在1 mΩ左右（见图2所示）。链状图形试验时，当某一个镀覆孔孔壁出现部分断裂导致阻值发生变化时，即使变化率超过了20%，阻值的变化量也只有0.2 mΩ，相对于总电阻而言，变化率只有0.2%，无法呈现失效现象；这通常表现在总电阻变化率较小，切片分析下来发现孔壁出现部分断裂现象。除非当所有镀覆孔都发生断裂现象，从而引起链状图形整体电阻变大，否则我们将无法直观地通过阻值判定试样失效与否。……