金属膜电阻失效前后概率分布及可靠性分析*
2021-03-23王倩男何文辉
电子器件 2021年1期
关键词:模型
王倩男,何文辉
(中国计量大学机电工程学院,浙江 杭州310018)
金属膜电阻是膜式电阻器(Film Resistors)中的一种,是采用高温真空镀膜技术将镍铬或类似的合金紧密附在瓷棒表面形成皮膜,经过切割调试阻值,以达到最终要求的精密阻值,然后加适当接头切割,并在其表面涂上环氧树脂密封保护而成。 工厂在生产电阻时,因为工艺条件,设备条件,原材料的波动,导致达不到预期的可靠性指标[1]。 要提高电阻的可靠性,需要知道电阻失效的原因,对失效模型进行量化判定,进而促进产品质量的提升,此外,金属膜电阻可靠性指标的量化分析,对批量生产时控制产品质量的稳定性、一致性均有重要意义。 鉴于金属膜电阻可靠性较高的特点,本文探讨了步进应力加速寿命试验在金属膜电阻可靠性指标分析,及电阻失效原因查找方面的方法与理论模型构建。
近年来,一些学者对此做了相关研究。 张放等[2]采用不同程度的高温高湿试验对片式厚膜电阻器长期可靠性及失效模式进行了研究分析,并提出正确涂覆三防漆能够有效提高电阻在高温高湿下的可靠性水平。 曹玉保等[3]对金属氧化膜电阻进行了失效分析,成功准确地找到了金属膜电阻的失效部位,并从电气角度分析了金属膜电阻的失效过程,总结了提高金属膜电阻的可靠性的方法。 David Han[4]在连续检查和间隔检查两种不同的故障检查模式下,使用基于条件块独立性的随机终止时间的递归关系,得出了在渐进式I 型检查下一般k 级逐步应力加速寿命试验的预期终止时间。……
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