电缆样本耦合长度对转移阻抗测试结果的影响

2021-03-12孙蓓云

现代应用物理 2021年4期

关键词：方法

孙蓓云，秦锋，聂鑫

(强脉冲辐射模拟与效应国家重点实验室，西安710024;西北核技术研究所，西安710024)

转移阻抗是衡量屏蔽电缆屏蔽效能的一个重要特征参量，转移阻抗越小，电缆的屏蔽效能越高。Vance等[1]给出了几种典型结构屏蔽电缆转移阻抗的理论计算方法，但由于电磁耦合的机理比较复杂，对于编织屏蔽电缆或具有复杂屏蔽结构的电缆，转移阻抗通常在实验室通过测试获得。转移阻抗的测试方法有多种[2-8]，最常用的是三同轴法。IEC 62153-4-3：2013[9]标准给出了方法A、方法B和方法C共3种基于三同轴法的转移阻抗测试方法。方法C中，可采用金属管构成三同轴结构，也可采用金属编织套构成三同轴结构，本文分别称为方法C1和方法C2。由于方法C所需的测试设备较少，电缆样本的制备比方法A和方法B简单，且可测试的上限频率比方法A和方法B低的缺点可通过缩短电缆样本的耦合长度来弥补，人们更愿意采用方法C来测试屏蔽电缆的转移阻抗，如美国军用标准MIL-C-85485[10]中规定的转移阻抗测试方法就与文献[9]中的方法C2相同。利用三同轴法测试屏蔽电缆的转移阻抗时，耦合长度不同的电缆样本在高频段的测试结果会有差异。本文从三同轴法的频率响应系数出发，通过分析方法C的频率响应和SYV-50-3-4同轴电缆转移阻抗的实测数据，给出了不同测试结构和同种测试结构不同耦合长度电缆样本的频率响应及其对转移阻抗测试结果的影响。