李映晟

（中国船舶重工集团公司第七二三研究所 江苏省扬州市 225001）

1 引言

对于部分较为复杂的集成电路而言，当设计复杂，结构繁多时，如何通过高效、科学的技术完成对集成电路的检测，是值得深入研究的问题。现阶段，通常采用的检测手段为电压测试法，即通过在整个电路设计回路的输入端进行源头输入，通过关键节点的测试电路观察输出的最终结果与设计模型能否有效匹配[1]。但是这样的检测手段，其最终得到的结果并不准确，且经常出现以偏概全，以点带面的情况，不能够真实反应集成电路的整体运行情况，例如有的故障是不表现在电路设计功能发挥方面，更多体现在系统工作效能低、运行结果不精确等，此时对于集成电路检测的缺陷就会无限放大，检测手段的可靠性和有效性极大降低。因此，本文针对此类问题，通过设计基于“IDDQ+IDDT”混合模式的集成电路智能动态检测技术，能够实现快速检测、整体复盘与多类覆盖等功能，能够在满足实时性要求的同时，确保电路运行的可靠性。

2 混合模式的集成电路智能检测

2.1 电路状态信息捕捉

实现系统自动化的智能切换，需要实时获取集成电路正常/异常状态，各部实时运行参数以及开关状态信息。基本方式：

（1）根据集成电路基本性能参数描述，当主控制电路在运行状态时应当闭合，而关机时则为断开状态；

（2）主控制电路利用接口实时可采集整个集成电路的工作参数与运行数据，其中接收功率是关键参数，可与智能化切换装置信息设计实现所同步的其他参数同步。……