步海军,黎俊,夏燕,汤坤,王攀,曾婷婷,江铖,闵林

(1.苏州市计量测试院,江苏 苏州 215128；2.国家平板显示产业计量测试中心(苏州）,江苏 苏州 215163）

0 引言

偏光片是平板显示器制造过程中的关键光学材料[1],在液晶显示器中,双层偏光片结构转换并解析偏振光,产生明暗对比,从而产生显示画面;在目前流行的AMOLED显示器中,偏光片的使用有效地降低了OLED显示器表面的反射,提升了显示器视觉效果。

偏光片透过轴和吸收轴的光谱透过率直接影响显示器的视觉效果,精确测量偏光片透过率对于显示器产品质量管控具有重要意义。偏光片透过率的传统测量方法为:通过一个已知偏振特性的偏振棱镜(或偏光片)产生具有特定偏振态的线偏光,考察其透过相对转动的待测偏光片后光强度的变化来计算偏振参数[2]。这种方法测量原理较为简单,所使用的测量仪器结构也不复杂,因此得到了广泛的应用。然而由于该方法中光源一般具有部分偏振特性,且探测器光响应存在偏振依赖性,导致其测量准确性不能满足先进制造的技术要求。而且,显示产业中所使用的偏光片一般是通过高分子薄膜材料拉伸后吸附碘分子制造的,在获得偏光特性的同时难免使得材料带有部分二向色性,即在相互垂直的光轴上存在位相差,该位相差对显示器的图像质量具有重要影响,需要对其进行详细表征,而传统测量方法无法表征该位相差。

针对上述问题,本文提出了基于Stokes矢量分析的方法,通过测量入射到样品以及从样品出射的偏振光的Stokes矢量,分析偏振态的变化,以此来解析偏光片的偏振光学参数。……