/河北省计量监督检测研究院

0 引言

湿膜制备器主要用于涂布规定厚度的湿膜制备，以测定试样的遮盖力、色泽或制备样板等。湿膜制备器一般可分为单面湿膜制备器、多面湿膜制备器及可调式湿膜制备器。从样式上来分的话，可以分为工字形湿膜制备器、框式湿膜制备器和方形湿膜制备器。针对湿膜制备器目前还没有相关的校准规范，本文提出了一种校准方法进行探讨。

1 测量原理

单面湿膜制备器结构示意图见图1，湿膜制备器涂膜厚度即凹槽深度，选用光栅长度计在凹槽顶部调整到零位，移动湿膜制备器，在凹槽底部选四个位置（见图2）分别测量，以四组测量结果的平均值作为该凹槽的实测深度值，测量示意图见图3。

图1 单面湿膜制备器结构

图2 单面湿膜制备器凹槽底部的测量位置

2 测量设备及校准方法

2.1 测量设备

校准用标准器为海德汉的光栅长度计，测量范围为 0 ～ 25 mm，分辨力为 0.1 μm，准确度为±0.1 μm，选择球形测头，测量底座的平面度为0.0006 mm/180 mm。

图3 光栅长度计测量湿膜制备器

2.2 校准方法

将湿膜制备器放在光栅长度计检测平台上，调整光栅长度计，使其对准湿膜制备器基准面，并调整光栅长度计到“零位”，移动湿膜制备器，使光栅长度计测头与湿膜制备器凹槽底部接触，在测量位置1处重复测量5次，记录测量结果并计算平均值。然后重复上述步骤，对2、3、4位置处进行测量、记录测量结果并计算平均值，得到四组测量结果。四次示值的平均值作为该凹槽的实际深度值L，其深度值按式（1）计算，该湿膜制备器示值误差按式（2）计算：