郑小保，徐威，张国栋

（1.中国电子科技集团公司第二十二研究所，山东 青岛 266107；2.中国移动通信集团设计院有限公司山东分公司，济南 250001）

离子迁移谱（Ion Mobility Spectrometry，IMS）技术是20世纪60年代发展起来的一门检测技术，主要用来分析混合气体中存在的微量气体成分，特别适合于一些挥发性有机化合物的痕量探测，如毒品、爆炸物、化学战剂和大气污染物等。但是实际得到的IMS信号的迁移率受环境因素影响比较大，提高IMS信号迁移率的探测精度，减少误判一直是 IMS技术的研究热点之一。

IMS信号的迁移率随周围环境因素的变化而变化，迁移管的构造、电场强度、温度、气压和湿度等一些因素都会对它产生影响。一般采用精确控制或测量迁移环境的做法来提高迁移率的探测精度，但有些是不易控制的，有些精确测量的成本比较高。利用修正技术，对 IMS信号的峰位置进行校正，减弱外界因素对 IMS技术中离子迁移率的影响，一方面保证物质的正确识别，另一方面还可以降低设备的实现难度及成本。

1 离子迁移率

离子迁移率是单位强度电场作用下的离子平均迁移速度，用K表示，其单位为 m2/(V·s)，计算公式为：

式中：E为电场强度；为离子的速度

离子迁移率和中性迁移气体分子之间的基本关系最早由法国科学家 Langevin给出，但是计算出的迁移率值和实验值差别非常大。之后，陆续有人对这一理论进行了修改，并不断提出了新的理论。迄今为止，传统弱场下最为成功的离子迁移率理论是由Mason等提出的，由式（2）表示：