吴寒旭，宁 莹，邱丽荣，王 允，赵维谦

北京理工大学光电学院精密光电测试仪器及技术北京市重点实验室，北京 100081

引 言

共焦布里渊光谱探测系统通过测量样品微区声学声子的属性，对被测材料的机械性能进行表征[1-4]。由于其具有非接触、高空间分辨等优点，在生物医学检测[5-6]、材料科学[7]、物理化学等领域中被广泛应用[8-9]。由于弹性散射光比布里渊散射光强几个数量级，在没有充分抑制弹性散射光的情况下，其残余分量会与布里渊光谱发生重叠，难以实现布里渊光谱的精确测量[10-13]。此外，传统的共焦布里渊光谱探测系统进行高空间分辨层析探测是通过高数值孔径物镜实现[14]，导致共焦布里渊光谱探测系统的工作距离及层析深度被严重限制，这就意味着共焦布里渊光谱探测系统只能对薄样品才能进行高空间分辨光谱探测。因此，上述问题限制了共焦布里渊光谱探测系统在高散射样品以及长工作距离成像领域中的应用，同时也对传统的共焦布里渊光谱探测系统提出了更高的要求。

为降低弹性散射光对布里渊散射光的干扰，实现布里渊光谱高精度测量，众多学者开展了具有重要价值的研究工作。Giuliano Scarcelli等通过将级联虚拟成像相位阵列与空间掩膜板相结合，大幅降低了弹性散射与布里渊散射之间的串扰，提高了系统的消光比，但该方法也在很大程度上降低了布里渊光谱信号强度[10]；Meng等通过在收集光路中加入分子吸收室，利用分子吸收技术有效地滤除了弹性散射光，但该方法仅对特定波长的激发光有效，而且对光源的稳定性要求极高[11]；……