王 芳

(天津医科大学总医院超声科 天津 300052)

1 介绍

引起新生儿脑病情况可能有很多种。由弥漫性缺氧缺血性脑损伤引起时，称为缺氧缺血性脑病(HIE)。HIE是导致儿童脑瘫和其他严重神经功能缺陷的最常见原因之一[1]。脑损伤的确切性质取决于低血压严重程度和大脑成熟程度。大多数作者描述了妊娠期少于36周的新生儿的损伤模式与36周或更大的新生儿的损伤模式不同[2]。因此，为了本次讨论，合理地将早产儿定义为妊娠期少于36周的婴儿。脑损伤的严重程度、范围和部位的准确识别和特征记述依赖于适当的神经影像学检查方法，包括 X射线计算机断层成像扫描(CT)、超声检查(US)和磁共振成像(MR)。较新的诊断技术，如弥散加权磁共振和MR波谱学提供了深入了解和潜在的治疗干预。新生儿预后取决于损伤严重程度和患儿胎龄。

在本文中，我们回顾了HIE的病理生理和临床表现，讨论了US、CT和MRI评估脑损伤的优缺点，描述了观察到的四种脑损伤模式，并简要回顾了脑损伤的预后和治疗。

2 病理生理学

围产期窒息是HIE的重要原因,导致高碳酸血症和低氧血症。低血压和大脑血流量减少导致一系列有害事件，包括酸中毒，释放炎症介质和兴奋性神经递质，自由基形成，钙积累和脂质过氧化。这些生物化学物质导致大脑低灌注状态下血管自动调节功能丧失。这些“事件”导致双相能量衰竭，在这种情况下，细胞新陈代谢的初始损伤在最终的神经元细胞死亡之前被再灌注[3-4]。……