王涛 张大磊 沙东兵

【摘  要】对于综合化程度高的先进飞机，硬件设备通用化、集成化、模块化设计是主推思想，促发了各功能物理接口之间越发复杂的交叉，为避免出现一个模块故障，造成多设备报故并难以隔离的情况，需要求各模块化功能设备具有良好的测试性，能够快速准确的定位并隔离故障，便于维护。建立一个良好测试性的基础则是采用一个完备的BIT设计。本文针对机载模块化短波功能设备对一种可行的BIT（机内自测试）设计方法[1]完成解析，该方法可以提升短波功能设备的测试性水平，满足飞机的使用要求。

【关键词】BIT;测试性;测试点

1引言

随着机载设备综合化、集成化设计程度的不断深入[2]，短波机载电子设备与其它功能设备的交联性却越来越强。自身功能系统组成和综合航电系统功能线程组成均属于串联结构，若BIT设计不符合使用环境需求或其完备程度较低，极容易造成短波功能设备测试性差，出现“牵一发而动全身”的情况，即短波故障造成系统多功能模块报故。因此，短波功能设备设计必须注重的BIT设计。

2BIT要素及流程设计

2.1BIT要素

对于短波功能设备而言，可能的故障电路或故障模式难以穷尽，在进行BIT设计时，如果把全部因素都设计考虑进去，将使BIT的结构极为复杂，难以体现BIT的优势，甚至会对机载航电系统造成负面影响。因此，必须考虑工作的可靠性，确定影响系统可靠性的主要因素，并作为BIT的测试重点，从而达到提高系统的任务可靠性、测试性的目的。……