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Φ200 mm口径长焦距球面干涉测试及装备

2019-09-02赵智亮陈立华赵子嘉

中国光学 2019年4期
关键词:标准检测

赵智亮,刘 敏,陈立华,赵子嘉,陈 辉

(1.成都太科光电技术有限责任公司,四川 成都 610041;2.成都精密光学工程研究中心,四川 成都 610041)

1 引 言

随着大尺寸光学元件测试需求的增加,对光学测试技术的研究也随之不断扩展,从最初的泰曼-格林干涉测试技术[1]发展到现在比较成熟且广泛使用的斐索干涉测试技术[2-5],扩大了检测技术及装置对光学元件的不同测试范围。自美国Perkin Elmer公司研制出第一台斐索型激光球面干涉仪以来,球面干涉测试装置[6-8]的制备与应用研究就受到国内外学者的广泛关注,但仅限于小尺寸光学元件的检测,且测试精度较低。现代球面干涉仪[9]正朝向大口径、高精度和复杂面形的趋势发展,将成为国内外科研人员关注的重点探讨领域。

研究发现,球面干涉仪类型包括立式透射式、立式反射式、卧式透射式和卧式反射式4种,当大尺寸球面元件在实际使用中处于倒置状态时,由于球面元件对支撑精度的要求非常高,故在加工和装调过程中[10-11],需要保证检测条件与环境一致,即准直物镜和标准球面镜以及标准球面反射镜同时保持倒置状态,这无法保证高精度对准测试。现有技术中,根据测试装置的尺寸检测要求,对球面元件最大测试曲率半径为0~5 000 mm。传统长焦距测试[12]采用凹球面标准检测镜和凹球面标准反射镜,其空腔测试距离较长,占用空间比例大。为满足对大曲率球面光学元件的高精度对准测试,本文设计、研制了一款新型大口径长焦距立式斐索型球面干涉测试装置,选用凸球面标准镜和凹球面标准反射镜形成干涉空腔,大大减小空间测试距离,在光学检测领域具有广泛的应用前景。……

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